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東莞市善時(shí)電子科技有限公司

X射線熒光光譜分析儀 環(huán)保分析儀 合金元素分析儀器

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圖片 標(biāo) 題 更新時(shí)間
韓國X射線熒光光譜儀器
多鍍層，1～4層 測試精度：0.01 um 多次測量重復(fù)性誤差0.1％ 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U) 測量時(shí)間：10-60秒 Si-PIN探測器，能量分辨率為14 		2014-06-16
供應(yīng)韓國專業(yè)PCB膜厚測試儀器
多鍍層，1～4層 測試精度：0.01 um 多次測量重復(fù)性誤差0.1％ 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U) 測量時(shí)間：10-60秒 Si-PIN探測器，能量分辨率為14 		2014-06-16
能量色散X熒光光譜分析儀EDX-1000
EDX-1000 采用真空樣品腔； 專業(yè)用于銅、鐵、鋅等合金的全元素分析； 樣品形態(tài)可為固態(tài)，液態(tài)，粉沫。技術(shù)指標(biāo)： 元素分 		2014-06-16
X射線熒光光譜分析儀EDX-1200
技術(shù)指標(biāo)： 多準(zhǔn)直器自動(dòng)切換 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U) 元素含量分析范圍為1PPm到99.99% 測量時(shí)間：60-300秒 多次測量重復(fù)性誤差 		2014-06-16
金屬成分分析儀器EDX-1050
EDX-1000 采用真空樣品腔； 專業(yè)用于銅、鐵、鋅等合金的全元素分析； 樣品形態(tài)可為固態(tài)，液態(tài)，粉沫。技術(shù)指標(biāo)： 元素分 		2014-06-16
環(huán)保分析設(shè)備EDX-800
技術(shù)指標(biāo)：采用業(yè)界先進(jìn)的基本參數(shù)法（FP） RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd,Br 定量分析及共存元素 定量分析 同時(shí)具備 		2014-06-16
精確的環(huán)保成分分析儀
技術(shù)指標(biāo)：iEDX-100A 軟件對RoHS的分析 具有的效果，中英文界面 RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析 自動(dòng)校準(zhǔn) 		2014-06-16
具實(shí)力的X射線熒光光譜分析儀
技術(shù)指標(biāo)： RoHS/WEEE/ELV無損檢測 精準(zhǔn)的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析 多鍍層，1～6層 測試精度：0.01 um 元素分析范圍從鈉(Al)到鈾(U) 測量 		2014-06-16

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